4

Hot carrier induced device degradation in RF-nMOSFET's

Année:
1998
Langue:
english
Fichier:
PDF, 260 KB
english, 1998
16

Systematic finishing of dies and moulds

Année:
2006
Langue:
english
Fichier:
PDF, 208 KB
english, 2006
35

Effects of device layout on the drain breakdown voltages in MuGFETs

Année:
2011
Langue:
english
Fichier:
PDF, 704 KB
english, 2011